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Strichplatte MM/Radien/Winkel

Strichplatte MM/Radien/Winkel

Messungen sind sowohl auf hellen wie auf dunklen Objekten durch die spezielle Gestaltung des Massstabes möglich. Durch die Abdeckung des unteren Teils des Massstabes in der Längsrichtung wird dieser undurchsichtig und ist somit auch auf dunklen Gegenständen sichtbar. Die über die Abdeckung verlängerten Teilstriche werden in idealer Weise zu Messfühlern benutzt, entsprechend den Messbacken beim Mikrometer oder der Schiebelehre.
Standlupe F+C 8x

Standlupe F+C 8x

Gewohnt hohe Qualität auch wenn man mal nicht messen muss. Unsere Standlupe F+C 8x mit hochwertigem achromatischem Linsensystem, geneigter Stellung und klarem Kunststofffenster für eine gute Ausleuchtung und einem Sehfeld das bis zum Rand nutzbar ist sowie neutraler Strichplatte ohne Markierungen für die Betrachtung und Begutachtung ihrer Objekte. Selbstverständlich wird auch diese Lupe in einem bruchfesten Kunststoffetui geliefert.